Dissertation
Inhaltsverzeichnis
1. Einfuehrung
1.1. Allgemeine Einführung
1.2. LiF und CaF2 als Modellsysteme
1.2.1. Lithiumfluorid, LiF
1.2.2. Kalziumfluorid, CaF2
1.3. Bestrahlungen
2. Rasterkraftmikroskopie (RKM)
2.1. Kurze Einfuehrung
2.1.1. Arbeitsprinzip
2.1.2. Meßmodi
Betriebsmodus konstanter Kraft
Kraftmodulation
TappingTM bzw. Semi-Kontakt
2.2. Spitzenartefakte und deren Korrektur
2.2.1. Simulation von RKM
2.2.2. Korrektur von RKM-Bildern
2.2.3. Rekonstruktion der Spitze
2.2.4. Beurteilung des Ergebnisses
2.2.5. Simulationen
2.2.6. Messbeispiele
3. Messungen
3.1. Verschiedene Methoden der Auswertung
3.1.1. Klassische Auswertung von Hand
3.1.2. Automatisierung
3.1.3. Relative Flaechenbedeckung
3.1.4. Vergleich der verschiedenen Methoden
3.1.5. Zu den Fehlern
3.2. Hoehen und Radien von Ionenspurhügeln
3.2.1. Rohdaten
3.2.2. Korrektur der Spurradien
3.3. Weitere Eigenschaften der Huegel
3.3.1. Optisches Bleichen
3.3.2. Thermische Ausheilung
3.3.3. Reibung, Kraftmodulation und Semi-Kontakt
4. Theoretische Betrachtungen
4.1. Modellierung der Spurgroeßen
4.1.1. Ionenspuren in bisher existierenden Modellen
4.1.2. Ein einfacher Modellansatz
Deponierung der Dosis
Einfacher thermodynamischer Ansatz
4.1.3. Vergleich zwischen Theorie und Experiment
5. Zusammenfassung und Ausblick
6. Referenzen
7. Zusätzliche Referenzen (nur auf dieser CD, nicht in gedruckter Fassung)
Weitere interessante Artikel zum Themenbereich der Dissertation, welche jedoch nicht in der Arbeit zitiert werden.