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type: doctoralThesis
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creators_name: Marquard, Jonas
title: Digital Light Deflection and Electro-Optical Laser Scanning for STED Nanoscopy
subjects: ddc-500
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divisions: i-130001
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adv_faculty: af-13
abstract: Electro-optical deflectors provide a very attractive means of laser scanning in coordinate-targeted super-resolution microscopy due to their high scanning precision and high scanning velocity. Setups equipped with electro-optical deflectors demonstrate especially high resolving powers, fast imaging and reduced photobleaching. 

Two major shortcomings limit a widespread application of such devices. Their polarizing properties prevent de-scanning causing either a loss in signal or an increased background signal and the restricted deflection angles severely narrow the field of view. 

Herein, I report solutions to both of these problems. The polarization issue is evaded via a passive polarization rectifier that allows unpolarized light to pass the laser scanner. The field of view is nearly doubled through a digital light deflector composed of a Pockels cell and a Wollaston prism. This principle could be extended by N stages of the same kind yielding a field of view enlargement by a factor of 2^N. Thus, the work at hand paves the way for ultrafast electro-optical laser scanning with a large field of view.
abstract_translated_text: Aufgrund ihrer präzisen und äußerst schnellen Laserstrahlablenkung eignen sich elektrooptische Deflektoren im besonderen Maße für die Anwendung in hochauflösenden Laserscanning-Mikroskopen jenseits der Beugungsgrenze. Versuchsaufbauten mit elektrooptischen Deflektoren zeichnen sich durch besonders hohes Auflösungsvermögen, hohe Bildraten sowie der Reduktion von Bleichprozessen aus.

Zwei wesentliche Nachteile verhindern jedoch die weite Verbreitung solcher Scanner. Die polarisierenden Eigenschaften der dabei eingesetzten Kristalle bedingen entweder einen deutlichen Signalverlust oder einen Anstieg des Hintergrundsignals. Des Weiteren werden die Ausmaße des Bildfelds durch die kleinen Ablenkwinkel stark eingeschränkt.

In der vorliegenden Arbeit präsentiere ich Lösungen für beide Probleme. Ein passiver Polarisations-Gleichrichter erlaubt auch unpolarisierter Strahlung, den Laserscanner in zwei eng beieinander liegenden Strahlen zur passieren. Das Bildfeld des elektrooptischen Deflektors wird durch einen digitalen Strahlablenker mithilfe von Pockelszellen nahezu verdoppelt. Dieses Verfahren kann durch N solcher Elemente erweitert werden, sodass sich das Bildfeld theoretisch um den Faktor 2^N vergrößern lässt. Somit liefert diese Arbeit die Grundlagen für einen elektrooptischen Laserscanner, der sehr schnell große Bildfelder abtasten kann.
abstract_translated_lang: ger
date: 2018
id_scheme: DOI
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ppn_swb: 1653287608
own_urn: urn:nbn:de:bsz:16-heidok-239568
date_accepted: 2017-12-13
advisor: HASH(0x561a628b05e8)
language: eng
bibsort: MARQUARDJODIGITALLIG2018
full_text_status: public
place_of_pub: Heidelberg
citation:   Marquard, Jonas  (2018) Digital Light Deflection and Electro-Optical Laser Scanning for STED Nanoscopy.  [Dissertation]     
document_url: https://archiv.ub.uni-heidelberg.de/volltextserver/23956/1/dissJonasMarquard_Abgabe.pdf