%0 Generic
%A Müller, Christian
%D 2002
%F heidok:3005
%K AFM , ionic crystals , ion irradiation , image distortion
%R 10.11588/heidok.00003005
%T Rasterkraftmikroskopie an Einkristallen von Lithium- und Kalziumfluorid nach Bestrahlung mit Schwerionen
%U https://archiv.ub.uni-heidelberg.de/volltextserver/3005/
%X Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit schwerioneninduzierten Veränderungen an der Oberfläche ionischer Kristalle. Als geeignete Modellsysteme wurden zu diesem Zweck LiF- und CaF2-Einkristalle mittels Rasterkraftmikroskopie (RKM) untersucht. Beide Materialien zeigen nach der Bestrahlung kleine Hügel (Höhe wenige nm, Radien ca. 10 nm). Da der endliche Krümmungsradius der Sensorspitze die Genauigkeit der RKM sehr empfindlich beeinflußt, steht am Anfang eine quantitative Untersuchung der Abbildungsfehler. Anschließend wird ein Weg zu deren Korrektur aufgezeigt. Die korrigierten Meßwerte ergeben, daß nach Überschreiten eines Schwellenwertes im Energieverlust die Spurhöhen linear und die Durchmesser gemäß einem Potenzgesetz als Funktion des Energieverlusts der Ionen an der Oberfläche ansteigen. Zusätzliche Ausheilungsexperimente legen den Schluß nahe, daß es sich bei den beobachteten Spuren um Metallkolloide handeln könnte. Diese Annahme erlaubt es, eine einfache theoretische Modellierung der Spurgrößen vorzunehmen.