eprintid: 30089 rev_number: 22 eprint_status: archive userid: 5952 dir: disk0/00/03/00/89 datestamp: 2021-06-18 13:39:02 lastmod: 2021-06-24 09:44:47 status_changed: 2021-06-18 13:39:02 type: masterThesis metadata_visibility: show creators_name: Fallot-Burghardt, Wolfgang title: Strahlenschäden in dem CMOS Verstärker­- und Auslesechip VIKING 2 subjects: ddc-530 divisions: i-130001 adv_faculty: af-13 abstract: 1992 wurde zur Auslese des Siliziumvertexdetektors des ARGUS­-Experimentes am DORIS III-Speicherring (DESY) erstmals der VIKING-2­-Chip verwendet. Wegen des Strahlungsuntergrundes bei ARGUS wurden umfangreiche Untersuchungen unternommen, um die Strahlungsempfindlichkeit des VIKING-2­-Chips zu bestimmen. Die Testbestrahlungen wurden an einer Cs 137­-Quelle (E = 662kev) des DKFZ (Deutsches Krebsforschungszentrum) in Heidelberg duchgeführt. Insgesamt vier VIKING-2­-Chips wurden in zwei Bestrahlungsdurchläufen schrittweise bis zu 943 Gy(Si) bzw. 2021 Gy(Si) bestrahlt, wobei immer jeweils einer der Chips unter Spannung stand und die Anschlüsse eines zweiten mit Masse verbunden waren. Alle Chips waren am Ende der Bestrahlung noch voll funktionsfähig; die schwerwiegendste Veränderung bei Bestrahlung bestand in einer Zunahme des Rauschens. Mit einem speziell für ultrarauscharme Messungen ausgelegten Aufbau bestimmten wir die Zunahme der äquivalenten Rauschladung (ENC) in Abhängigkeit von der Lastkapazität C und der Dosis D bei einer Scheitelpunktszeit von 0,9 us. Der Zunahme des Rauschens entspricht eine Abnahme der Verstärkung v mit steigender Dosis. Durch Nachregeln der einstellenden Spannungen war eine Kompensierung von Strahlenschäden möglich; hierfür wird eine genaue Vorschrift angegeben. date: 2021 id_scheme: DOI id_number: 10.11588/heidok.00030089 ppn_swb: 1761181009 own_urn: urn:nbn:de:bsz:16-heidok-300898 date_accepted: 1993-07-16 advisor: HASH(0x561a62883568) language: ger bibsort: FALLOTBURGSTRAHLENSC2021 full_text_status: public place_of_pub: Heidelberg thesis_type: Diplom citation: Fallot-Burghardt, Wolfgang (2021) Strahlenschäden in dem CMOS Verstärker­- und Auslesechip VIKING 2. [Master's thesis] document_url: https://archiv.ub.uni-heidelberg.de/volltextserver/30089/7/Diplomarbeit_Fallot-Burghardt_1993.pdf