%0 Generic
%A Ferring-Siebert, Anna
%C Heidelberg
%D 2024
%F heidok:34757
%K niederfrequentes Flussrauschen, excess noise, supraleitende Elektronik
%R 10.11588/heidok.00034757
%T Untersuchung des niederfrequenten  Flussrauschens in dc-SQUIDs bei Temperaturen  unter 1K
%U https://archiv.ub.uni-heidelberg.de/volltextserver/34757/
%X Der Ursprung des niederfrequenten Flussrauschens in supraleitenden Quantenbauteilen  wird seit vielen Jahren intensiv untersucht. Dennoch sind bis heute nicht alle Ursachen  verstanden. Aus diesem Grund wurde im Rahmen der vorliegenden Arbeit eine Vielzahl  von unterschiedlichen dc-SQUIDs entworfen, gefertigt und bei Temperaturen unter 1K  eingehend charakterisiert. Insbesondere wurde das niederfrequente magnetische Flussrauschen  mit Hilfe verschiedener Messaufbauten gemessen und detailliert analysiert. Zu den  untersuchten SQUIDs zählen nicht nur einfache Washer-SQUIDs, sondern auch komplexe,  als Stromsensor ausgeführte Parallel- und Seriengradiometer sowie N-SQUID-Serienarrays.  Diese stellen eine Serienschaltung aus N einzelnen SQUID-Zellen dar und finden üblicherweise  Verwendung als rauscharme Tieftemperaturverstärker. Die durchgeführten Untersuchungen  zielen darauf ab, eine Abhängigkeit des niederfrequenten Flussrauschens von  der Induktivität der SQUID-Leiterschleife, von herstellungsbedingten Verunreinigungen  isolierender Schichten, von dem verwendeten Material der Leiterschleife oder der Wasserstoffbeladung  von Nb-Strukturen zu untersuchen. Es zeigte sich, dass alle aufgeführten  Punkte das niederfrequente Flussrauschen beeinflussen und dass eine Optimierung daher  das niederfrequente Flussrauschen reduzieren kann. Mit den durchgeführten Messungen  konnte somit ein wichtiger Beitrag geleistet werden, um Licht auf die Frage nach Ursache  und Eigenschaften des niederfrequenten Zusatzflussrauschens in supraleitenden Quantenbauteilen  zu werfen und perspektivisch diesen Rauschbeitrag zu reduzieren.