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status_changed: 2012-08-14 15:20:51
type: doctoralThesis
metadata_visibility: show
creators_name: Meng, Fanzhen
title: IR Spectroscopy Study of silver and Copper Nano-films
title_de: Infrarotuntersuchungen an Silber- und Kupfer-Nanofilmen
ispublished: pub
subjects: 530
divisions: 130700
adv_faculty: af-13
keywords: Silver and Copper thin films
cterms_swd: Experimentalphysik
cterms_swd: Metalloberfläche
cterms_swd: Nanopartikel
abstract: The present work is focused on the infrared optical properties of thin Ag and Cu films grown on MgO(001) and the Surface-Enhanced Infrared Absorption (SEIRA) of CO on these metal films. During both the deposition of the metal films onto MgO(001) and gas exposure to the metal films at low temperatures (< 100 K) in Ultra High Vacuum (UHV), infrared spectra were captured in situ in transmission or reflection geometry. Afterwards the surface morphology of the films was examined ex situ by atomic force microscopy (AFM). For the first time, an infrared reflectance minimum was found during the metal film growth. The infrared optical properties of some films can be described by the Drude-type model or the Effective Medium Model. The Ag films show different surface morphologies at different substrate temperatures and at different final thicknesses. Also the SEIRA of CO adsorbed on Ag films is strongly related to the surface morphologies. The Cu films prepared at room temperature show island like surface morphology. SEIRA of CO adsorbed on Cu films shows differences depending on the Cu island size.
abstract_translated_text: Die vorliegende Arbeit konzentriert sich auf die infrarotoptischen Eigenschaften dünner Silber- und Kupferfilme, die auf die MgO(001)-Oberfläche aufgedampft wurden, und oberflächenverstärkte Infrarot-Absorption (SEIRA) von auf diesen Filmen adsorbiertem CO. Sowohl während des Abscheidens der Metallfilme als auch während der Gasangebote bei tiefen Temperaturen (<100K) im Ultrahoch-Vakuum (UHV) wurden Infrarotspektren in situ in Transmissions-bzw. Reflexionsgeometrie aufgenommen. Die Oberflächen- Morphologie wurde anschließend ex situ mittels Rasterkraft-Mikroskopie (AFM) vermessen. Erstmalig konnte ein Infrarot-Refektivitätsminimum während des Metallfilmwachstums gefunden werden. Die infrararotoptischen Eigenschaften einiger Filme können durch Drude-artige Modelle bzw. Effektiv- Medien-Modelle beschrieben werden. Die Silberfilme zeigen bei verschiedenen Substrattemperaturen und verschiedenen Filmdicken unterschiedliche Morphologien. Auch SEIRA von auf Ag-Filmen adsorbiertem CO hängt stark von der Oberflächenmorphologie ab. SEIRA von CO auf Cu-Oberflächen zeigt Abhängigkeiten von der Größe der Cu-Inseln.
abstract_translated_lang: ger
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class_labels: 68.37.-d, 68.37.Ps, 68.43.Pq
date: 2007
date_type: published
id_scheme: DOI
id_number: 10.11588/heidok.00007165
ppn_swb: 526839481
own_urn: urn:nbn:de:bsz:16-opus-71652
date_accepted: 2007-01-10
advisor: HASH(0x556120a1b028)
language: eng
bibsort: MENGFANZHEIRSPECTROS2007
full_text_status: public
citation:   Meng, Fanzhen  (2007) IR Spectroscopy Study of silver and Copper Nano-films.  [Dissertation]     
document_url: https://archiv.ub.uni-heidelberg.de/volltextserver/7165/1/thesis_lastversion.pdf