Funke, Joachim
Göttingen, Vandenhoeck & Ruprecht, pp. 23-40.
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PDF, German
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Abstract
Berichtet wird vom ersten Intelligenztest der Welt und dessen Erfinder, Alfred Binet. Neben einer kurzen biografischen Skizze von Alfred Binet wird der Binet-Simon-Test beschrieben und beispielhaft vorgestellt. Darüber hinaus wird die Bedeutung dieses Verfahrens für die Geschichte der Psychometrie herausgestellt.
| Item Type: | Book Section |
|---|---|
| Editors: | Lamberti , G. |
| Title of Book: | Intelligenz auf dem Prüfstand - 100 Jahre Psychometrie |
| Publisher: | Göttingen |
| Place of Publication: | Vandenhoeck & Ruprecht |
| Date: | 2006 |
| Page Range: | pp. 23-40 |
| Faculties / Institutes: | The Faculty of Behavioural and Cultural Studies > Institute of Psychology |
| Subjects: | 150 Psychology |
| Schriftenreihe ID: | Works by Joachim Funke |
