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Alfred Binet (1857 bis 1911) und der erste Intelligenztest der Welt

Funke, Joachim

In: Lamberti, G. (Hrsg.): Intelligenz auf dem Prüfstand - 100 Jahre Psychometrie. Göttingen, Vandenhoeck & Ruprecht 2006, pp. 23-40

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PDF, German
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Abstract

Berichtet wird vom ersten Intelligenztest der Welt und dessen Erfinder, Alfred Binet. Neben einer kurzen biografischen Skizze von Alfred Binet wird der Binet-Simon-Test beschrieben und beispielhaft vorgestellt. Darüber hinaus wird die Bedeutung dieses Verfahrens für die Geschichte der Psychometrie herausgestellt.

Item Type: Book Section
Editors: Lamberti, G.
Title of Book: Intelligenz auf dem Prüfstand - 100 Jahre Psychometrie
Publisher: Göttingen
Place of Publication: Vandenhoeck & Ruprecht
Date Deposited: 27. Feb 2008 15:15
Date: 2006
Page Range: pp. 23-40
Faculties / Institutes: The Faculty of Behavioural and Cultural Studies > Institute of Psychology
Subjects: 150 Psychology
Schriftenreihe ID: Works by Joachim Funke
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