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Advanced methods in Spatially Modulated Illumination (SMI) microscopy

Failla, Antonio Virgilio

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PDF, Englisch
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Übersetzung des Abstracts (Englisch)

In this dissertation a new virtual microscopy appoach is presented in order to investigate the potentiality of spatially modulated illumination microscopy in topology investigation and nanosizing. Exerimental measuremnts will follow to all the theoretical previsions. Virtual microscopy evaluations and experiment measurements indicate that with spatially modulated illumination microscopy axial distance measurements in the one naonmeter range are feasible and, for the first time in farl field light micrsoscopy subwavelength size measurements down to 30 nm can be performed.

Dokumententyp: Dissertation
Erstgutachter: C. Cremer, Prof
Tag der Prüfung: 3 Juli 2002
Erstellungsdatum: 18 Sep. 2002 00:00
Erscheinungsjahr: 2002
Institute/Einrichtungen: Zentrale und Sonstige Einrichtungen > Max-Planck-Institute allgemein > MPI fuer Astronomie
DDC-Sachgruppe: 530 Physik
Normierte Schlagwörter: xxx
Freie Schlagwörter: microscopiemicroscopy
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