Funke, Joachim
In: Lamberti, G. (Hrsg.): Intelligenz auf dem Prüfstand - 100 Jahre Psychometrie. Vandenhoeck & Ruprecht, Göttingen 2006, S. 23-40
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Abstract
Berichtet wird vom ersten Intelligenztest der Welt und dessen Erfinder, Alfred Binet. Neben einer kurzen biografischen Skizze von Alfred Binet wird der Binet-Simon-Test beschrieben und beispielhaft vorgestellt. Darüber hinaus wird die Bedeutung dieses Verfahrens für die Geschichte der Psychometrie herausgestellt.
| Dokumententyp: | Buchbeitrag |
|---|---|
| Herausgeber: | Lamberti, G. |
| Buchtitel: | Intelligenz auf dem Prüfstand - 100 Jahre Psychometrie |
| Verlag: | Göttingen |
| Ort der Veröffentlichung: | Vandenhoeck & Ruprecht |
| Erstellungsdatum: | 27 Feb. 2008 15:15 |
| Erscheinungsjahr: | 2006 |
| Seitenbereich: | S. 23-40 |
| Institute/Einrichtungen: | Fakultät für Verhaltens- und Empirische Kulturwissenschaften > Psychologisches Institut |
| DDC-Sachgruppe: | 150 Psychologie |
| Schriftenreihe: | Schriften von Joachim Funke |
