Funke, Joachim
In: Lamberti, G. (Hrsg.): Intelligenz auf dem Prüfstand - 100 Jahre Psychometrie. Vandenhoeck & Ruprecht, Göttingen 2006, pp. 23-40
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Abstract
Berichtet wird vom ersten Intelligenztest der Welt und dessen Erfinder, Alfred Binet. Neben einer kurzen biografischen Skizze von Alfred Binet wird der Binet-Simon-Test beschrieben und beispielhaft vorgestellt. Darüber hinaus wird die Bedeutung dieses Verfahrens für die Geschichte der Psychometrie herausgestellt.
Document type: | Book Section |
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Editor: | Lamberti, G. |
Title of Book: | Intelligenz auf dem Prüfstand - 100 Jahre Psychometrie |
Publisher: | Göttingen |
Place of Publication: | Vandenhoeck & Ruprecht |
Date Deposited: | 27 Feb 2008 15:15 |
Date: | 2006 |
Page Range: | pp. 23-40 |
Faculties / Institutes: | The Faculty of Behavioural and Cultural Studies > Institute of Psychology |
DDC-classification: | 150 Psychology |
Series: | Works by Joachim Funke |